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首页 > 新闻中心 > 无损探伤检测人员代理招聘与证书查询 > 各种无损探伤检测方法的使用通用原则无损检测证书挂靠：各种无损探伤检测方法的使用通用原则
每一种无损探伤检测方法均有其能力范围和局限性，为便于设计人员、检验人员、安全监察人员和无损检测人员等承压设备相关人员加强对标准的理解和应用，本条对所涉及的各无损检测方法的应用提出了一些原则性要求。
1、按不同方法的检测能力分类。
（1）按检测不同位置缺陷的能力分为∶
a） 仅表面开口缺陷，包括渗透和目视检测;
b） 可检测表面开口与近表面缺陷，包括磁粉、漏磁和涡流检测∶
c） 可同时检测表面开口、近表面和埋藏缺陷，包括射线、超声、TOFD、DR 和CR检测，需注意的是射线类（射线胶片、DR 和 CR）和超声类（超声和 TOFD）检测方法对于表面开口缺陷或近表面缺陷的检测能力一般不如表面检测方法。
（2）按检测缺陷活性的能力分为声发射检测、其他检测方法。
（3）按整体致密性检测的能力分为泄漏检测、其他检测方法。
2、对于铁磁性材料的表面检测，应优先采用磁粉检测方法，确因结构形状等原因│不能采用磁粉检测时方可采用其他无损检测方法（如渗透或涡流检测）。这样规定主要是考虑一是磁粉检测的灵敏度高、成本低且检测速度快，二是磁粉检测可同时检测表面和近表面缺陷。
3、对承压设备的同一部位进行检测的评级问题进行了明确。
（1）若采用一种无损检测方法不同检测工艺分别进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准，如超声检测分别采用 K1、K2斜探头检测时，以评定级别低的为准。
（2）采用两种或两种以上的检测方法，应按各自的方法评定级别，如分别采用射线和超声检测，按各自方法评定级别和验收。
1、按不同方法的检测能力分类。
（1）按检测不同位置缺陷的能力分为∶
a） 仅表面开口缺陷，包括渗透和目视检测;
b） 可检测表面开口与近表面缺陷，包括磁粉、漏磁和涡流检测∶
c） 可同时检测表面开口、近表面和埋藏缺陷，包括射线、超声、TOFD、DR 和CR检测，需注意的是射线类（射线胶片、DR 和 CR）和超声类（超声和 TOFD）检测方法对于表面开口缺陷或近表面缺陷的检测能力一般不如表面检测方法。
（2）按检测缺陷活性的能力分为声发射检测、其他检测方法。
（3）按整体致密性检测的能力分为泄漏检测、其他检测方法。
2、对于铁磁性材料的表面检测，应优先采用磁粉检测方法，确因结构形状等原因│不能采用磁粉检测时方可采用其他无损检测方法（如渗透或涡流检测）。这样规定主要是考虑一是磁粉检测的灵敏度高、成本低且检测速度快，二是磁粉检测可同时检测表面和近表面缺陷。
3、对承压设备的同一部位进行检测的评级问题进行了明确。
（1）若采用一种无损检测方法不同检测工艺分别进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准，如超声检测分别采用 K1、K2斜探头检测时，以评定级别低的为准。
（2）采用两种或两种以上的检测方法，应按各自的方法评定级别，如分别采用射线和超声检测，按各自方法评定级别和验收。
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