新闻中心
最新动态
首页 > 新闻中心 > 无损探伤检测人员代理招聘与证书查询 > 射线无损探伤的"胶片透照技术选择要求"的理解？无损检测证书挂靠：射线无损探伤的"胶片透照技术选择要求"的理解？
a） X射线（≤100kV）和 Tm170射线源，射线检测能量较低，一般用于薄板和轻金属
的射线照相，采用双胶片透照技术（使用中增感屏）时，前后底片的黑度差范围较大，影响前后底片影像细节的一致性，不利于底片的分析和评定。从实际的试验结果来看，采用单胶片透照单片评定比双胶片透照双片叠加评定（无论是否使用中增感屏）像质计灵敏度具有非常明显的优势。因此，本部分采用X射线（≤100kV）和 Tm170射线源时，只允许采用单胶片透照技术，其他射线能量（或射线源）允许采用单胶片和双胶片两种胶片透照技术;
b） 胶片透照技术的选择与检测技术等级无关，不同于 JB/T 4730.2—2005 只限定 于 A 级检测技术的要求;
c） 胶片透照技术的选择与被检工件的材质、结构和尺寸、类型、透照方式等无关， 例如等厚度焊缝同样允许采用双胶片透照技术;
d） 双胶片透照技术应使用两张相同分类或分类相近的胶片，例如不能将 C3和 C5 类胶片放置于一个暗盒进行双胶片透照，主要是为了尽量减小前后底片等级差异大造成的黑度差大，影像细节差异等;
e） X射线透照时，为了防止相同分类的前后底片的黑度差异较大，应控制中增感 屏的厚度，每层中增感屏应不大于前屏的厚度。例如，如果前、后增感屏选择 0.03mm 铅箔，中增感屏只能选择 2×（≤0.03）mm 的铅箔增感屏，例如 2× 0.01mm; f） 选择相同分类还是分类相近的胶片组合，根据具体情况由检测方自行决定，标 准没有强制要求。但根据双胶片透照技术工程运用的实践经验，可能的情况下，尽量选择使用相同分类等级的胶片，避免前后底片黑度差偏大，细节影像差异大。把分类相近的不同等级胶片放于同一暗盒中（为减小中屏吸收带来的影响，不使用中增感屏）进行曝光试验，在相同的暗室条件处理后的底片黑度差异见表 9;
g） 当把不同分类的胶片放置于同一暗盒时，不同胶片分别评定不同厚度的对应区 域的单胶片透照技术是最恰当的。标准没有禁止分类不同的胶片组合作为双胶片透照技术使用，就是为了在某些适当的情况下与这类单胶片透照技术配合使用。以 C2+C3组合为例，在极端厚度变化范围情况下，相同的检测区可能存在 C2 评定区域，C3 评定区域，以及 C2+C3 叠加评定区域的情况，从而增大透照厚度宽容度范围;
h） 使用双胶片透照技术时，为了减小前后底片的黑度差异，可适当调整前后底片 的暗室处理参数。
b） 胶片透照技术的选择与检测技术等级无关，不同于 JB/T 4730.2—2005 只限定 于 A 级检测技术的要求;
c） 胶片透照技术的选择与被检工件的材质、结构和尺寸、类型、透照方式等无关， 例如等厚度焊缝同样允许采用双胶片透照技术;
d） 双胶片透照技术应使用两张相同分类或分类相近的胶片，例如不能将 C3和 C5 类胶片放置于一个暗盒进行双胶片透照，主要是为了尽量减小前后底片等级差异大造成的黑度差大，影像细节差异等;
e） X射线透照时，为了防止相同分类的前后底片的黑度差异较大，应控制中增感 屏的厚度，每层中增感屏应不大于前屏的厚度。例如，如果前、后增感屏选择 0.03mm 铅箔，中增感屏只能选择 2×（≤0.03）mm 的铅箔增感屏，例如 2× 0.01mm; f） 选择相同分类还是分类相近的胶片组合，根据具体情况由检测方自行决定，标 准没有强制要求。但根据双胶片透照技术工程运用的实践经验，可能的情况下，尽量选择使用相同分类等级的胶片，避免前后底片黑度差偏大，细节影像差异大。把分类相近的不同等级胶片放于同一暗盒中（为减小中屏吸收带来的影响，不使用中增感屏）进行曝光试验，在相同的暗室条件处理后的底片黑度差异见表 9;
g） 当把不同分类的胶片放置于同一暗盒时，不同胶片分别评定不同厚度的对应区 域的单胶片透照技术是最恰当的。标准没有禁止分类不同的胶片组合作为双胶片透照技术使用，就是为了在某些适当的情况下与这类单胶片透照技术配合使用。以 C2+C3组合为例，在极端厚度变化范围情况下，相同的检测区可能存在 C2 评定区域，C3 评定区域，以及 C2+C3 叠加评定区域的情况，从而增大透照厚度宽容度范围;
h） 使用双胶片透照技术时，为了减小前后底片的黑度差异，可适当调整前后底片 的暗室处理参数。
想了解更多的关于无损检测证书挂靠信息可以经常关注我们
【相关文章】
